Particle Counter（顆粒檢測）
涌淳半導體專注于半導體工藝設備的研發、制造、銷售及售后一體化服務，提供半導體廠商工藝設備的一站式解決方案。
關鍵詞：
半導體設備、半導體工藝
所屬分類：
產品描述
The instrument uses laser beam scanning for detecting defect contamination and displays scan results in color-coded wafer maps, histograms, and summaries.
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